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File:Graphite ambient STM.jpg

Graphite_ambient_STM.jpg （457 × 353像素，文件大小：71 KB，MIME类型：image/jpeg）

摘要

描述
Deutsch: Rastertunnelmikroskopische Aufnahme einer Graphit-Oberfläche, gemessen bei Umgebungsbedingungen (Raumtemperatur, Luft). Zu sehen sind diejenigen Oberflächenatome, die kein unmittelbares Nachbaratom in der nächst unteren Graphitschicht besitzen. Gemessen in Sektion Kristallographie, Dept. Geo/Umwelt, LMU München.
English: Scanning Tunneling Microscopy image of graphite, aquired under ambient conditions. Measured at the Dept. for Earth and Environmental Sciences, LMU and Center for NanoScience (CeNS), Munich.
日期
来源 自己的作品
作者 Frank Trixler, Ludwig-Maximilians-Universität München (LMU); adapted from LMU/CeNS: Organic Semiconductor Group
授权
(二次使用本文件)		 gemeinfrei (public domain)

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当前2007年7月13日 (五) 20:442007年7月13日 (五) 20:44版本的缩略图457 × 353（71 KB）Nanotrix{{Information |Description=Rastertunnelmikroskopische Aufnahme einer Graphit-Oberfläche, aufgenommen bei Umgebungsbedingungen (Raumtemperatur, Luft. (Scanning Tunneling Microscopy image of graphite, aquired under ambient conditions). |Source=own work |Da

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