輻射計
輻射計，又稱「放射計」，是一種測量電磁輻射的輻射通量的裝置。「放射計」這一術語有時特指紅外輻射檢測計，但也可指檢測其它各種波長的電磁輻射的檢測計。
較常見的輻射計是克魯克斯輻射計（1873年由威廉·克魯克斯發明），它是一個內有轉子（帶有顏色深淺不同的葉片）的處在在半真空中的早期模型，在受到光照時葉片會轉動。
尼克斯輻射計（1901年發明）的原理與克魯克斯輻射計不同，這類輻射計更加靈敏。
微波輻射計用於檢測微波波段的電磁輻射。微波輻射計內充有氬氣以使其旋轉。
MEMS（Micro-electromechanical Systems，微機電系統）輻射計，由帕特里克·簡柯維克（Patrick Jankowiak）發明，可以按尼克斯輻射計或克魯克斯輻射計的原理運作，而且可以檢測更寬的波段和粒子的能級。[1]
參見
參考資料
外部連結
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