模板:掃描探針顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書

閱論編掃描探針顯微鏡

常見	原子力 (非接觸模式（英語：Non-contact atomic force microscopy）) 掃描隧道	Typical atomic force microscopy set-up

其他	彈道電子發射（英語：Ballistic electron emission microscopy）化學力（英語：Chemical force microscopy）電導原子力（英語：Conductive atomic force microscopy）電化學掃描隧道（英語：Electrochemical scanning tunneling microscope）靜電力開爾文探針力磁力磁共振力（英語：Magnetic resonance force microscopy）近場掃描光學 Photothermal microspectroscopy 壓電力（英語：Piezoresponse force microscopy）掃描電容（英語：Scanning capacitance microscopy）掃描電化學掃描門（英語：Scanning gate microscopy）掃描霍爾探針（英語：Scanning Hall probe microscope）掃描離子電導（英語：Scanning ion-conductance microscopy）掃描熱（英語：Scanning thermal microscopy）自旋極化掃描隧道（英語：Spin polarized scanning tunneling microscopy）掃描電壓（英語：Scanning voltage microscopy）

應用	掃描探針光刻（英語：Scanning probe lithography） Dip-pen nanolithography Feature-oriented scanning Millipede內存

參閱	納米技術顯微鏡顯微鏡學