微分干涉相差顯微鏡

微分干涉相差顯微技術(DIC),又稱Nomarski干涉相差顯微技術或Nomarski顯微鏡,是一種增強對比度來觀察未染色的透明的樣品的光學顯微鏡。DIC根據干涉測量獲取有關樣品光路長度（英語：Optical path length）信息，以查看其他不可見的特徵。相對複雜的光學系統產生具有灰色背景的黑色或白色的圖像。該圖像類似於通過相差顯微鏡獲得的但沒有明亮繞射光暈的圖像。該技術由波蘭物理學家Georges Nomarski（英語：Georges Nomarski）在1952年研發。^[1]

DIC通過將偏振光源分離成在樣品平面上空間位移（剪切）的兩個正交偏振相干部分，並在觀察之前重組。複合時兩部分的干涉對其光程差（即折射率乘積和幾何路徑長度）敏感。添加可調節的偏移相位確定在所述樣品中的零光程差的干涉，對比度是正比於沿剪切方向的路徑長度梯度，得到三維的光密度變化的樣本圖像，圖像強調線條和邊緣，但不提供表面上準確的圖像。

參考文獻

^ Lang, Walter. Nomarski differential interference-contrast microscopy (PDF). ZEISS Information. 1968, 70: 114–120 [31 August 2016]. （原始內容 (PDF)存檔於2022-06-16）.

外部連結

Nomarski (DIC) microscopy
Microscopyu.com （頁面存檔備份，存於互聯網檔案館）
Molecular Expressions: （頁面存檔備份，存於互聯網檔案館）
Differential Interference Contrast Primer （頁面存檔備份，存於互聯網檔案館）
Differential Interference Contrast （頁面存檔備份，存於互聯網檔案館）

[1] Lang, Walter. Nomarski differential interference-contrast microscopy (PDF). ZEISS Information. 1968, 70: 114–120 [31 August 2016]. （原始內容 (PDF)存檔於2022-06-16）.

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